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本文標題:原子力顯微鏡電性能測試時需要導電性能

信息分類:站內新聞 新聞來源:未知 發布時間:2014-7-29 11:00:55
原子力顯微鏡電性能測試時需要導電性能

利用電性能測試時需要導電性能良好的載體,如石墨或鍍有金屬的基片。

樣晶的厚度包樣臺的厚度,最大試樣過重,有時會影響動作,請不要放
過重的試樣。

試樣的大小以不大于試樣臺的大小為大致的標準。稍微大一點也沒問題。

但是最大值約如果未固定好就進行測量可能產生移位。請固定好后再測
定。

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本文出自上海永亨光學儀器有限公司,本文地址:http://m.yybbc.cn/xinwen/1007.html  
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