本文標題:認識偏光顯微鏡進行檢測中是如何利用偏光鏡檢術方法
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-12-7 9:56:16
認識偏光顯微鏡進行檢測中是如何利用偏光鏡檢術方法
通常情況下，利用偏光鏡進行檢術的方法有兩種，其使
用的參數和規格是不同的，而且其效果也是不同的，
第一種，正象鏡的檢測
這是一種沒有畸變的鏡檢，不會使用到特殊的伯特蘭式的
透鏡，而是用低倍的物鏡進行觀測，這樣可以將照明的數值
孔徑變小，不過是需要將聚光鏡中的上透鏡推開的，
第二種，錐光鏡的檢測
這種檢測是屬于干涉象的鏡檢，需要用到高倍物鏡，通過
檢測的物體來產生干涉的現象，使用的也是伯特蘭式的透鏡，
不過在其后焦點上的成像是那種干涉的象，而且像是可以放
大，也將數值孔徑的值增大了。
將本頁加入收藏
下一篇：簡單了解一下工藝說明金相顯微鏡分析其主要流程如下
上一篇：正確認識常用封藏劑不同的樹膠顯微鏡試樣制備（之二）
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.yybbc.cn/xinwen/1988.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
